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    HAST 试验箱在电子元器件耐老化性能测试中的使用方法

    2026-01-12 15:15:23  来源：上海荣计达仪器科技有限公司
    一、前言：
    高加速应力测试（HAST）作为模拟严苛湿热环境的检测，可快速评估电子元器件在高温、高压、高湿条件下的耐老化能力。AST 试验箱适用于各类通用电子元器件的湿热老化可靠性检测。
    二、测试准备：
    试样选取：从同批次、同规格的电子元器件中随机抽取试样，数量根据测试需求确定，试样表面无破损、污渍、变形等缺陷，且已完成前期常规性能检测，数据合格。
    设备检查：确认 HAST 试验箱的温度、湿度、压力控制系统运行正常，密封性能良好，温湿度传感器、压力传感器经校准且在有效期内；准备好试样固定夹具、温湿度记录设备、性能检测仪器等辅助工具。
    试样预处理：将试样置于常温常湿环境（温度 23℃±2℃，相对湿度 50%±5%）中放置 24 小时，使试样状态稳定。
    三、测试流程：
    步骤 1：试样安装
    打开 HAST 试验箱门，将试样架平稳放入试验箱内胆，根据试样尺寸调整试样架层间距，确保每层试样架受力均匀。
    使用镊子夹取预处理后的试样，按照编号顺序将试样固定在试样架上，固定方式以不损伤试样、不影响试样与湿热环境充分接触为原则：
    对于小型片式元器件（如贴片电阻、电容），均匀平铺于试样架的透气区域，试样之间的间距不小于试样自身尺寸的 1.5 倍，避免相互重叠、接触。
    对于带引脚的元器件（如插件三极管、连接器），通过专用夹具将其竖直固定，引脚朝下，避免引脚间相互接触造成短路，同时保证试样主体暴露在试验环境中。
    试样安装完成后，检查试样数量、编号与安装位置，确认无误后，将温湿度记录设备的探头放置在试验箱内胆的中间位置（与试样区域同高度），确保监测数据能真实反映试样所处环境。
    步骤 2：试验参数设置
    操作 HAST 试验箱的控制系统，进入参数设置界面，按照已确认的测试方案依次设置参数：
    温度：根据标准要求设定，常规范围为 105℃~130℃，精度控制在 ±1℃。
    相对湿度：常规设置为 85%~100%，精度控制在 ±2% RH。
    压力：根据设定温度匹配对应压力，常规范围为 0.07MPa~0.23MPa，精度控制在 ±0.005MPa。
    试验时间：根据测试需求设定，常规梯度为 24h、48h、72h、96h，时间精度控制在 ±10min。
    运行模式：选择 “自动运行” 模式，设置完成后，系统将自动保存参数。
    再次核对所有设置参数，确保与测试方案一致，避免因参数设置错误导致测试失效。
    步骤 3：试验启动与运行监控
    确认参数无误后，关闭试验箱门，扣紧门锁，按下控制系统的 “启动” 按钮，试验箱开始进入运行阶段。
    升温升压阶段：试验箱自动启动加热、加湿、加压系统，温度、湿度、压力将逐步上升至设定值，此阶段需持续观察设备运行状态，记录升温升压的耗时，一般耗时不超过 60 分钟。
    恒温恒压恒湿阶段：当温度、湿度、压力均达到设定值并稳定后，试验箱进入该阶段，此时开始正式计时。运行期间，每 1 小时通过控制系统查看一次温湿度、压力数据，同时记录温湿度记录设备的监测数据，若发现参数出现 ±2℃、±5% RH、±0.01MPa 的波动，需及时排查原因，若波动超出允许范围且无法及时恢复，应立即停止试验。
    试验运行期间，严禁随意打开试验箱门，严禁触碰试验箱的加热、加压部件，防止发生安全事故。
    步骤 4：试验终止与试样取出
    当试验时间达到设定值后，试验箱将自动触发终止程序，进入泄压、降温阶段：
    泄压：系统将按照预设的速率缓慢泄压，泄压速率控制在 0.01MPa/min~0.02MPa/min，严禁手动强制泄压。
    降温：泄压完成后，系统启动降温装置，使试验箱内胆温度缓慢降至常温（≤30℃），降温过程中避免温度骤降。
    待试验箱内压力恢复至常压、温度降至常温后，打开箱门，静置 10 分钟，使箱内水汽充分散发，再使用镊子将试样从试样架上取下，按编号顺序放入密封袋中。
    取出试样后，及时清理试验箱内胆，擦干残留水汽，关闭设备电源，做好设备使用记录。
    步骤 5：试样后处理
    将装有试样的密封袋置于前期预处理的常温常湿环境（温度 23℃±2℃，相对湿度 50%±5%）中，放置 24 小时，使试样从试验后的湿热状态恢复至稳定的环境状态。
    后处理期间，密封袋保持密封状态，避免试样接触外界粉尘、水汽或受到外力碰撞。
    步骤 6：试样性能检测
    按照与试验前一致的检测方法和仪器，对后处理后的试样进行性能检测，检测项目根据电子元器件类型确定，核心检测项目包括：
    电阻类元器件：检测标称电阻值、偏差率。
    电容类元器件：检测标称电容值、漏电流、损耗角正切。
    半导体器件：检测导通电阻、绝缘电阻、正向压降。
    通用项目：检测引脚接触电阻、元器件外观状态。
    每完成一个试样的检测，及时记录检测数据，确保数据真实、准确、可追溯，检测过程中严格按照仪器操作规范执行，避免操作误差。

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    王林
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